高低溫試驗箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規律。主要針對于電工,電子產(chǎn)品,以及其元器件及其它材料在高溫,低溫綜合環(huán)境下運輸,使用時(shí)的適應性試驗。用于產(chǎn)品設計,改進(jìn),鑒定及檢驗等環(huán)節。適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車(chē)摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標。
試驗箱高低溫適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進(jìn)行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗。特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應力篩選(ESS)試驗。該設備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫速變的環(huán)境下貯存、運輸、使用時(shí)的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶(hù)自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬,測試后,通過(guò)檢測,來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預定要求,以便供產(chǎn)品設計、改進(jìn)、鑒定及出測試廠(chǎng)檢驗用。
高低溫試驗箱測試
高低溫試驗箱檢測其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時(shí)的適應性;其測試方式主要還是要根據GB/T10592-2008的試驗標準進(jìn)行;溫度測試的方法其中包含:測試點(diǎn)的測試程序、位置及數量、數據處理和試驗結果
1.測試點(diǎn)的測試程序:在試驗箱可調的范圍內,選取高標稱(chēng)溫度和低標稱(chēng)溫度,將試驗箱按先低溫后高溫的程序運行,在試驗空間的中心點(diǎn)的溫度達到測試溫度并且保持恒定2小時(shí),在30分鐘內每一分鐘測試所有測試點(diǎn)的溫度1次,共30次;
2.測試點(diǎn)的數量:測試點(diǎn)的數量與工作室容積大小的關(guān)系為:a.工作室容積不大于2m3時(shí),溫度測試點(diǎn)為9個(gè);b.工作室容積大于2m3時(shí),溫度測試點(diǎn)為15個(gè),c.當工作室容積大于50m3時(shí),溫濕度測試點(diǎn)的數量可以適當增加。
3.測試點(diǎn)的位置:在試驗空間內定出上、中、下三個(gè)水平測試面,簡(jiǎn)稱(chēng)上層、中層、下層;上層工作室的頂面的距離是工作室高度的十分之一,中層通過(guò)工作室幾何中心,下面在低層樣品架上方10毫米處;測試點(diǎn)位于三個(gè)此時(shí)面上,中心測試點(diǎn)位于工作室幾何中心,其余測試點(diǎn)在工作室壁的距離為各自邊長(cháng)的十分之一,但對工作室容積不大于1.3米的試驗箱,高距離不小于50毫米.